Juha Kokkonen
Ylläpidon jäsen
- Liittynyt
- 17.10.2016
- Viestejä
- 14 116
Samsung kertoo käyneensä useita kuukausia kestäneiden tutkimusten aikana läpi kaikki mahdolliset syyt rautaan, ohjelmistoon ja laitteeseen liittyvien prosessien suhteen. Tutkimuksiin osallistui yli 700 yrityksen työntekijää ja niissä hyödynnettiin yhteensä 200 000 puhelinta sekä 30 000 ylimääräistä akkua. Samsungin itsensä ohella tutkimuksia tekivät myös puolueettomat tutkimusyhtiöt UL, Exponent ja TUV Rheinland.
Kuten jo ennakkoon arveltiin, ongelmat liittyivät akkuun. Uutta tietoa kuitenkin on, että alkuperäisessä valmistuserässä ja sitä seuranneessa korvauserässä syy oli eri. Molemmissa tapauksissa oikosulut johtuivat akun positiivisen ja negatiivisen elektrodin koskettamisesta toisiinsa akun eristekerroksen vaurion vuoksi, mutta sen tarkempi aiheuttaja poikkesi toisistaan.
Ensimmäisen tuotantoerän puhelimissa ongelma tarkentui akun oikeaan ylänurkkaan (takaa katsottuna) kohdistuneeseen puristukseen sekä negatiivisen elektrodin pään väärään sijaintiin akun kulma-alueella. Tämä vika olisi ollut mahdollista todeta röntgenkuvauksella.
Korvaavan tuotantoerän puhelimissa oikosulun aiheuttivat puolestaan ylimääräiset purseet akun positiivisessa elektrodissa, jonka lisäksi monista akuista todettiin puuttuvan sisäinen eristeteippi. Tämän vian toteaminen olisi vaatinut Samsungilta akkurakenteen purkamista.
[embed]
Tapahtuneen myötä Samsung kertoo ottaneensa käyttöön laajan valikoiman sisäisiä turvallisuus- ja laatuprosesseja, joiden avulla se pyrkii varmistamaan tuotteidensa turvallisuuden. Siihen lukeutuu mm. kahdeksanvaiheinen akkujen turvallisuustarkistus. Uusia prosesseja hyödynnetään kaikissa Samsungin vuoden 2017 puhelinmalleissa.
Lisäksi yritys on perustanut puolueettomista asiantuntijoista koostuvan Battery Advisory Group -ryhmän, jonka tehtävänä on pitää Samsungin näkökulma akkujen turvallisuuteen ja innovaatioihin objektiivisena.
Lähde: Samsung (1), (2), (3)
Linkki alkuperäiseen uutiseen (io-tech.fi)[/embed]
Viimeksi muokattu: